广立微：公司扩展研发晶圆级可靠性测试设备 现已实现关键功能开发
【资料图】
广立微近期在接受调研时表示，面向晶圆级可靠性测试领域，公司扩展研发了晶圆级可靠性测试（WLR）设备，现已实现关键功能开发，扩充了公司电性测试设备产品线。
（文章来源：界面新闻）
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